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我司將參展“第十五屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2013)”
聚光 發布時(shi)間(jian):2014-10-10 聚光 來源: 聚光 瀏覽量:1642

  2013年10月23—26日,由中華人民(min)共和國科學(xue)技術部批準、中國分析測試(shi)協會主辦的“第十(shi)五屆北京分析測試(shi)學(xue)術報告會暨展覽(lan)會(BCEIA2013)”將在(zai)北京展覽(lan)館召開(kai)。

  BCEIA由中華人民共和國科學技術部批準,中國分(fen)析(xi)(xi)測(ce)試協會(hui)(hui)主辦,從1985年(nian)開(kai)始,每兩年(nian)舉辦一(yi)次,26年(nian)來已經(jing)連續成功舉辦了(le)十(shi)四屆。BCEIA已成為(wei)國內(nei)最具影(ying)響力(li)的專業性分(fen)析(xi)(xi)測(ce)試儀器展覽會(hui)(hui)之(zhi)一(yi),并在(zai)在(zai)國外享有(you)較高的聲(sheng)譽(yu)。本屆BCEIA2013學術報(bao)告會(hui)(hui)會(hui)(hui)議主題(ti)為(wei)“分(fen)析(xi)(xi)科學創(chuang)新未來”,由大會(hui)(hui)報(bao)告、分(fen)會(hui)(hui)報(bao)告、應(ying)用技術報(bao)告會(hui)(hui)共同組(zu)成。展會(hui)(hui)同期還將進行BCEIA獲獎產品(pin)頒獎儀式等一(yi)系(xi)列(lie)活(huo)動(dong)。

  此次分(fen)(fen)析(xi)測試領域的專業(ye)盛(sheng)會(hui),我(wo)司將以“科技創造美好生活”為展示主題(ti),分(fen)(fen)設綜述(shu)、有(you)機分(fen)(fen)析(xi)、無(wu)機分(fen)(fen)析(xi)、近紅(hong)外四大展區(qu),另設活動專區(qu)。屆時我(wo)司將集中(zhong)展示臺式GC-MS  便攜(xie)GC-MS、 LC-MSMS、ICP-OES(BCEIA2013金獎評(ping)選產(chan)品(pin))、近紅(hong)外系列(便攜(xie)、臺式)等實驗室分(fen)(fen)析(xi)領域的最新(xin)技術及產(chan)品(pin)。

 

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